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高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快
簡(jiǎn)要描述：高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快用于檢測(cè)材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量
產(chǎn)品型號(hào)： SME-100PF
所屬分類：高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱
更新時(shí)間：2024-06-28
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快
是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測(cè)設(shè)備，用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
1）溫濕度控制儀表采用“韓國(guó)原裝TEMI990"大屏幕-液晶顯示-可編程微電腦PID控制SSR輸出運(yùn)行
2） 具有PID自整定功能、模糊控制功能、多點(diǎn)報(bào)警功能、參數(shù)屏蔽功能、用戶調(diào)整功能、斜坡/保溫功能
3） 傳感器為*Pt100鉑電阻傳感器，精度高，準(zhǔn)確
高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則設(shè)備結(jié)構(gòu)該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱電腦失效驗(yàn)證試驗(yàn)升降溫快
試樣限制 | |
| 本試驗(yàn)設(shè)備禁止： 易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存 腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存 生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存 強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存 |
3.容積、尺寸和重量 | |
3.1.標(biāo)稱內(nèi)容積 3.2.內(nèi)箱尺寸 3.3.外型尺寸 3.4.重量 | 80L W 400×H 500×D 400mm W 700×H 1640×D 1150mm |
4.性能 | |
4.1.測(cè)試環(huán)境條件 4.2.測(cè)試方法 | 環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、試驗(yàn)箱內(nèi)無試樣條件下 GB/T5170.2-2008電工電子產(chǎn)品溫度試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn) |
4.3.溫度范圍 | -40℃→+150℃ |
4.4.溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃ |
4.5.溫度偏差 | ±2.0℃ |
4.6.濕度范圍 | 20%～98%R.H |
4.7.濕度波動(dòng)度 | ±2.5%R.H. |
4.8.濕度均勻度 | ±3.0%RH（濕度＞ 75%RH） ±5.0%RH（濕度 ≤75%RH） |
4.9.升溫時(shí)間 | -40℃→+150℃ 65min |
4.10.降溫時(shí)間 | +20℃→-40℃ 60min |
4.11.負(fù)載情況 | 空載 |
4.12.溫濕度控制范圍圖 | |
4.13.滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
| GB/T 2423.1-2008試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法 GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法 GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn) GJB 150.4-1986 低溫試驗(yàn) IEC68-2-1 試驗(yàn)A：寒冷 IEC68-2-2 試驗(yàn)B：干熱 |
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